Předmět Charakterizační metody v nanotechnologiích (17PMPCHN)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu 17PMPCHN - Charakterizační metody v nanotechnologiích, Fakulta biomedicínského inženýrství, České vysoké učení technické v Praze (ČVUT).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Cíl

Po absolvování předmětu bude mít student, jak teoretickou znalost metod, tak praktickou zkušenost s vybranými možnostmi charakterizace nanomateriálů.

Literatura

Chrisey, D.B., Hubler, D.K.: Pulsed Laser Deposition of Thin Films. John Wiley and Sons, Inc., 1994Prasad, P.N.: Nanophotonics. Wiley Interscience 2004Gricová, M.: Metody analýzy materiálů, Vydavatelství ČVUT, Praha 1992Eckertová, L.: Elektronika povrchů, SPN Praha, skripta MFF UK, Praha 1983Ekcertová, L., Frank, L.: Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie, Academia, Praha 1996Miller, J.C., Haglund, R.: Laser ablation and desorption, Vol. 30, Experimental Methods in the Physical Sciences, Academic press, 1998Němcová, I., Čermáková, L., Rychlovský, P.: Spektrometrické analytické metody I.,Univerzita Karlova, Vydavatelství Karolinum, Praha 1997Trchová, M.: Metodiky FTIR spektroskopie, Studijní text k Speciální praktika III., KFPyMFF UK Praha, 1995Cahn Frs, R.V.: Concise Encyclopedia of Materials Characterization, Elsevier, 2005Brundle, C.R., Evans, C.A., Wilson, S., Fitzpatrick, L.E.: Encyclopedia of materials characterization, Butterworth- Heinemann , 1992Cullity, B.D.: Elements of X- ray Diffraction, Adison- Wesley, Menlo Park, CA, 1978Klug, H.P., Alexander, L.E.: X - ray Diffraction Procedures, Wiley, New York 1974Prasad, P.N.: Nanophotonics. Wiley Interscience 2004Kubátová, J. a kol.: Sborník přednášek NANOTECHNOLOGIE, ESF, program CZ 04.01.03, 2008

Požadavky

zápočet: povinná účast na cvičení a odevzdání vybraných protokolů. zkouška: dva testy

Garant

Miroslav Jelínek

Vyučující

Miroslav Jelínek