Předmět Diagnostika tenkých vrstev (XP13DTF)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu XP13DTF - Diagnostika tenkých vrstev, Fakulta elektrotechnická, České vysoké učení technické v Praze (ČVUT).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Cíl
The main goal is to provide an overview of analytical methods focused mainly on thin films deposited by chemical and physical vapor deposition.
Literatura
1. Surface Analysis: The Principal Techniques, John C. Vickerman, Ian Gilmore (Editors), Wiley, 2nd edition, 2009, ISBN 04700176432. Surface Analysis Methods in Materials Science, D.J. O'Connor, Brett A. Sexton, Roger S.C. Smart (Editors) , Springer, 2nd edition, 2010, ISBN 3642074588
Garant
Tomáš Polcar
Vyučující
Tomáš Polcar