Jak Začít?

Máš v počítači zápisky z přednášek
nebo jiné materiály ze školy?

Nahraj je na studentino.cz a získej
4 Kč za každý materiál
a 50 Kč za registraci!




Předmět Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách (F7030)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu F7030 - Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách, Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita (MU).

Top 10 materiálů tohoto předmětu

Materiály tohoto předmětu

Materiál Typ Datum Počet stažení

Další informace

Cíl

Cílem předmětu je umožnit studentům- popsat a vysvětlit základní zákonitosti rtg difrakcí a rtg reflexí na tenkých vrstvách- aplikovat tyto znalosti na studium defektů v polovodičových heterostrukturách a jejich rozhraní

Osnova

1. Elementární popis vlnového pole:Rtg vlna ve vakuu;Greenova funkce volné částice, reprezentace rovinnými vlnami;Rozptyl vlnění, diferenciální účinný průřez;Směr vlny rozptýlené na tenké vrstvě nekonečných laterálních rozměrů;Klasifikace teorií rozptylu.2. Kinematická teorie rozptylu na ideálních strukturách:Rozptyl na atomu;Rozptyl na malém krystalu;Rozptyl na tenké vrstvě, rtg difrakce, rtg reflexe;Empirické započtení lomu a absorpce.3. Kinematická rtg difrakce na porušených tenkých vrstvách:Homogenní deformace, pseudomorfní a relaxované vrstvy;Periodické supermřížky;Náhodná deformace, koherentní a nekoherentní rozptyl;Laterální struktury.4. Dynamická teorie rozptylu:Rovnice pro vlny v krystalu;Dispersní plochy;Okrajové podmínky na povrchu krystalu;Jednovlnová aproximace, rtg reflexe;Dvouvlnová aproximace, rtg difrakce;Nekoplanární difrakce.5. Rtg reflexe na drsných rozhraních:Statistický popis drsnosti;Fraktálová drsnost;Samouspořádané struktury;Koherentní reflexe na drsných rozhraních;Difuzní rozptyl na drsných rozhraních.6. Experimentální aspekty:Zdroje rtg záření;Rtg difraktometr, rozlišovací funkce v reciprokém prostoru;Rtg detektory.

Literatura

HOLÝ, Václav , U. PIETSCH a T. BAUMBACH. High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers. Germany Berlin: High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers, 1998. 256 s. Springer Tracts in Modern Physics. ISBN 3-540-62029-X. info

Požadavky

Dobré znalosti fyziky pevných látek a optiky

Garant

prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

Vyučující

Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.