Předmět Mikroskopie atomové síly a další metody sondové rastrovací mikroskopie (F7320)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu F7320 - Mikroskopie atomové síly a další metody sondové rastrovací mikroskopie, Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita (MU).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Cíl
Účelem této přednášky je seznámit posluchače se základy mikroskopie atomové síly a jiných rastrovacích sondových technik jako jsou rastrovací tunelovací mikroskopie, mikroskopie magnetické síly, termická rastrovací mikroskopie, elektrostatické rastrovací mikroskopie a rastrovací optická mikroskopie blízkého pole. Tyto rastrovací techniky patří k moderním diagnostickým metodám, které jsou v posledních třech dekádách stále častěji využívány pro analýzu morfologie povrchů pevných látek různých objektů v mikrometrickém a nanometrickém měřítku. Hlavní cíle přednášky jsou následující:1) vysvětlit teoretické principy interakcí, které se uplatňují v mikroskopech odpovídajících jednotlivým rastrovacím technikám2) kvantitativně popsat hlavní procesy probíhající při realizaci měření v rámci výše zmíněných technik pomocí odpovídajících teoretických přístupů3) vyložit experimentální aspekty při praktické aplikaci jednotlivých rastrovacích technik4) klasifikovat systematické experimentální chyby vznikající u jednotlivých technik5) popsat aplikace jednotlivých rastrovacích technik ve fyzice a chemii povrchů pevných látek a tenkých vrstev, v biologii, lékařství a kontrole kvality v některých oblastech průmyslu6) vysvětlit možnosti kombinace rastrovacích technik (zvláště mikroskopie atomové síly) s jinými metodami (např. optickými) při komplexní analýze povrchů pevných látekAbsolventi přednášky získají znalosti umožňující jim po jednoduchém zaškolení na konkrétním mikroskopu provádět běžná měření pomocí uvedených rastrovacích technik spolu s interpretací těchto měření. Získané znalosti jim navíc umožní studovat speciální literaturu a stát se tím specialisty v této vědní oblasti.
Osnova
1. Různé teoretické přístupy při popisu silové interakce mezi hrotem mikroskopu atomové síly a povrchem studovaného objektu (bezkontaktní a kontaktní mod)2. Diskuse těchto přístupů z hlediska jejich praktického použití v souvislosti s mikroskopií atomové síly3. Konstrukce typického mikroskopu atomové síly4. Vliv silové interakce mezi hrotem a povrchem na činnost mikroskopu (záznam reliefu povrchu studovného vzorku)5. Základní metody kalibrace mikroskopu atomové síly6. Aplikace mikroskopie atomové síly při studiu povrchové drsnosti, horních rozhraní tenkých vrstev a struktury těchto vrstev7. Některé další aplikace této mikroskopie v biologii, biofyzice, chemii, a zdravotnictví8. Kombinace mikroskopie atomové síly a jiných metod (např. optických) při analýze povrchů pevných látek a tenkých vrstev9. Teoretické a experimentální principy mikroskopie magnetické síly (MMS), termické rastrovací mikroskopie (TRM), rastrovací tunelovací mikroskopie (RTM) a mikroskopie optiky blízkého pole (MOBL)10. Aplikace MMS. TRM, RTM a MOBP v praxi11. Srovnání jednotlivých probraných typů mikroskopie.
Literatura
Yongho Seo, Wonho Jhe, Atomic force microscopy and spectroscopy, Rep. Prog. Phys. 71 (2008) 1-23R. Kubínek, M. Vůjtek, M. Mašláň, Mikroskopie skenující sondou, Univerzita Palackého v Olomouci, Olomouc, 2003
Požadavky
Absolvování předmětu F1030 Mechanika a molekulová fyzika.
Garant
prof. RNDr. Jan Janča, DrSc.
Vyučující
prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.