Jak Začít?

Máš v počítači zápisky z přednášek
nebo jiné materiály ze školy?

Nahraj je na studentino.cz a získej
4 Kč za každý materiál
a 50 Kč za registraci!




Předmět Elektronová mikroskopie a její aplikace při studiu pevných látek (F7840)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu F7840 - Elektronová mikroskopie a její aplikace při studiu pevných látek, Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita (MU).

Top 10 materiálů tohoto předmětu

Materiály tohoto předmětu

Materiál Typ Datum Počet stažení

Další informace

Cíl

Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována i analytickým metodám a novinkám v oblasti elektronové mikroskopie. Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektorů.

Osnova

Interaction of electrons with solids, types of electron microscopes. Imaging in a transmission electron microscope (TEM), specimens for the microscopy. Electron diffraction (scattering on an atom and a lattice, point diffraction pattern, Ewald construction, deviation from the exact reflection condition). TEM diffraction contrast (extinction contours, contrast of crystal defects). Kinematical and dynamical theory of contrast. Kikuchi lines. Practical tasks of electron diffraction and TEM. Application of stereology. High resolution electron microscopy HVEM (ideal imaging, influence of the real microscope, thin phase object, transmission function). Microdiffraction, CBED. Scanning electron microscopy (SEM), X-ray microanalysis.

Literatura

KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011. 321 s. ISBN 9788001047293. infoGOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. infoREIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2. info

Garant

prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

Vyučující

RNDr. Jiří Buršík, DSc.prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc.prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.