Předmět Metody charakterizace nanomateriálů 1 (KMT / MN1)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KMT / MN1 - Metody charakterizace nanomateriálů 1, Fakulta strojní, Technická univerzita v Liberci (TUL).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Obsah

Přednášky:1. Úvod. Metody strukturní analýzy - zobrazovací, analytické. Oblasti využití metod.2. Elektronová mikroskopie. Interakce primárního elektronového svazku s pevnou látkou, mechanismy rozptylu - pružný a nepružný rozptyl, emise elektronů ze vzorku, účinnost emise sekundárních a zpětně odražených elektronů.3. REM - charakteristiky, schéma rastrovacího mikroskopu, základní konstrukční prvky . Tvorba obrazu u REM, kontrast chemický a topografický. Zobrazovací režimy, detektory signálů.4. TEM - charakteristiky, schéma transmisního mikroskopu, základní konstrukční prvky. Tvorba a interpretace obrazu, difrakční konstanta. Rozptylový a difrakční kontrast. Difrakční obrazce a jejich interpretace.5. Mikroskopie rastrující sondy (SPM). Obecná charakteristika metod, rozdělení podle druhu interakce (STM, AFM). Rastrovací tunelová mikroskopie (STM) - princip a využití, spojení s REM. Mikroskopie atomových sil (AFM), princip a využití.6. Speciální mikroskopické metody - FEM, FIM, SNOM?7. Základy spektroskopických metod. Optická emisní spektroskopie (OES) - vznik a záznam atomového spektra. Metody OES - klasické (plamenová fotometrie a spektrografie), moderní (simultánní a sekvenční) spektrometry8. Automatická emisní analýza kovů, OES s buzením v doutnavém výboji (GDOES), OES s buzením v plazmatu (ICP, DCP)9. Speciální spektroskopické metody - LIBS, Raman nebo rtg fluorescence?10. Elektronová mikroanalýza. Princip, detekce záření. Elektronová mikrosonda. Energiově disperzní analýza (EDA), vlnově disperzní analýza (WDA). Porovnání EDA, WDA. Metody kvantitativní mikroanalýzy.11. Strukturní rentgenografie. Vznik a vlastnosti rtg záření, interakce rtg záření s pevnou látkou. Strukturní rentgenografie - využití difrakce rtg záření ke studiu struktury, Braggova rovnice. Difrakce na krystalové mřížce - Laueho rovnice, Ewaldova konstrukce.12. Speciální difrakční metody - princip a využití EBSD, LEED13. Metody analýzy povrchu. Všobecný princip, nejběžnější metody - AES, SIMS, LEED, XPS, APS. Princip a využití Augerovy elektronové spektroskopie. Princip a využití XPS, SIMS.CVIČENÍ1. Úvod, organizace cvičení, podmínky udělení zápočtu, studijní literatura.2. REM - požadavky na vzorky a jejich příprava, možnosti REM v oblasti nanomateriálů,3. - 4. Pozorování na rastrovacím mikroskopu5. Metody přípravy vzorků pro TEM (repliky, fólie, metoda FIM beam).6. AFM - praktické ukázky, možnosti aplikací7. -8. Spektroskopická měření na LIBS spektrometru9. - 10. Praktické aplikace v energiově disperzní analýze, spojení s REM, TEM11. Experimentální metody difrakční analýzy. Základní metody studia mono- a polykrystalických materiálů. Moderní metody fázové analýzy, difraktometry12.-13. Metody analýzy povrchu.14. Zápočet.

Získané způsobilosti

Získání přehledu o principech a využitelnosti základních analytických metod.

Literatura

ASM Metals HandBook Volume 10 - Materials Characterization. HRIVŇÁK,I. Elektrónová mikroskópia ocelí. VEDA Bratislava, 1986. HRIVŇÁK I. Elektrónová mikroskopia ocelí, VEDA Bratislava 1986. BRUNDLE C. R., EVANS C.A., WILSON, S. Encyclopedia of Materials Characterization. SKOČOVSKÝ P., ŠIMAN I. Štruktúrna analýza liatin,ALFA Bratislava,1989. KRAUS I.:. Úvod do strukturní rentgenografie, Academia Praha, 1985.

Požadavky

Ústní zkouška

Garant

RNDr. Věra Vodičková, Ph.D.

Vyučující

RNDr. Věra Vodičková, Ph.D.RNDr. Věra Vodičková, Ph.D.