Předmět Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů (KFY / P752)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KFY / P752 - Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Jana Evangelisty Purkyně v Ústí nad Labem (UJEP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
1. Charakteristika povrchů, tenkých vrstev a povlaků, ideální a reálné povrchy, krystalografie povrchů, povrchové defekty, čistota povrchů2. Fyzikální metody přípravy tenkých vrstev: napařování, magnetronové naprašování, reaktivní depozice , molekulární epitaxe3. Chemické a další metody přípravy tenkých vrstev: CVD metody, depozice organických vrstev, elektrolytické depozice4. Mechanizmy růstu tenkých vrstev: typy růstu, morfologie a struktura TV, vlastnosti TV dielektrik a polovodičů, supermřížkové struktury5. Vlastnosti tenkých vrstev a povrchů kovů: mechanizmy vodivosti TV, rozměrové jevy, výstupní práce, povrchové stavy, termoemise, fotoemise6. Interakce elektronů s povrchy I: typy interakcí, základy elektronové difrakce, metody LEED a RHEED7. Interakce elektronů s povrchy II : rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), enviromentální rastrovací elektronová mikroskopie8. Interakce elektronů s povrchy III : spektroskopie Augerových elektronů (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciálů9. Interakce iontů s povrchy I: iontová implantace, iontové odprašování, spektroskopie sekundárních iontů (SIMS)10. Interakce iontů s povrchy II : spektroskopie rozptýlených iontů, pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE11. Interakce záření s povrchy : fotoelektronová spektroskopie (XPS), základy rentgenové difrakce (XRD)12. Rastrovací tunelová spektroskopie : princip STM, režimy měření, meze rozlišení, interpretace zobrazení13. Mikroskopie atomárních sil : princip AFM, režimy měření, interpretace zobrazení14. Pokročilé metody optické mikroskopie : konfokální mikroskopie, optická tunelová mikroskopie
Garant
doc. RNDr. Ing. Rudolf Novák, DrSc.
Vyučující
Ing. Martin Kormunda, Ph.D.RNDr. Jan Lörinčík, CSc.doc. RNDr. Ing. Rudolf Novák, DrSc.