Předmět Metody analýzy povrchů a tenkých vrstev (NBCM233)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NBCM233 - Metody analýzy povrchů a tenkých vrstev, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
Základy rastrovací sondové mikroskopie. Silová interakce mezi hrotem a povrchem. Rozlišení a artefakty měření. Kontaktní, semikontaktní a nekontaktní režimy měření. Pokročilé režimy měření (lokální elektrické, viskoelastické a tribologické vlastnosti) . AFM spektroskopie. Statistická analýza povrchů. Rentgenová fotoelektronová spektroskopie. Princip metody, zdroje rentgenovského záření, elektronový analyzátor. Kvalitativní a kvantitativní analýza. Povrchová citlivost. Augerovy elektrony. Chemický posuv. Omezení metody. Metody zpracování dat, analýza pomocí programu CASA XPS. Povrchy a tenké vrstvy vs. záření v optickém oboru. Význam jednotlivých spektrálních oborů. Absopční a interferenční metody. Fourierovská spektroskopie. Odraz polarizovaného světla, princip elipsometrie. Přesnost a citlivost elipsometrie, omezení. Elipsometrická analýza opticky netriviálních struktur.
Garant
doc. Ing. Andrey Shukurov, Ph.D.Mgr. Jan Hanuš, Ph.D.Mgr. Jaroslav Kousal, Ph.D.