Předmět Řádkovací mikroskopie - STM, AFM (NEVF106)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NEVF106 - Řádkovací mikroskopie - STM, AFM, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
1. Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších technikFyzikální principy mikroskopií v blízkém poli: rastrovací tunelová mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), optické rastrovací mikroskopie v blízkém poli (SNOM). Techniky odvozené od STM: spektroskopie tunelujících elektronů - STS, mikroskopie balisticky emitovaných elektronů - BEES, rastrovací tunelová potenciometre a šumová mikroskopie, kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. Modifikace techniky AFM - rastrovací silové mikroskopie (SFM): mikroskopie magnetických (MFM) a elektrostatických sil (EFM), techniky stejnosměrné a střídavé, kontaktní, semi-kontaktní a nekontaktní, jedno- a víceprůchodové. 2. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezeníRozlišovací schopnost, mody měření, otázky konstrukce a provozu rastrovacích mikroskopů v blízkém poli, využití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev. 3. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií Srovnání s dalšími technikami - transmisní elektronová mikroskopie (TEM), rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), autoemisní mikroskop (FEM), iontový projektor (FIM) a mikroskopie pomalými elektrony (LEEM). Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik při studiu povrchů a tenkých vrstev.
Literatura
Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995.Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992.Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford Univ. Press, Oxford 1993Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Editoři: L. Frank, J. Král, Academia, Praha 2002.
Garant
doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc.RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.