Předmět Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev I (NEVF515)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NEVF515 - Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev I, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
Elektronově optické mikroskopie - Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), mikroskopie pomalých elektronů (LEEM), mikroskopie fotoelektronů (PEEM). Difrakce - pomalých elektronů (LEED), analýza energetických křivek (IV-LEED), analýza profilu stop (SPA-LEED), rychlých elektronů (RHEED), fotoelektronů (XPD), rentgenová (XRD, XSW). Spektroskopie ztráty energie elektronů (EELS), infračervené spektroskopie (RAIRS, SERS). Fotoelektronová spektroskopie - buzená rentgenovými paprsky (XPS), vysoce energetickými rentgenovými paprsky (HXPS), synchrotroonovým zářením (SRPES), ultrafialovými paprsky (UPS), úhlově rozlišená (ARPES), spinově polarizovaná (SP-XPS), inverzní (IPS).
Literatura
Stefan Hufner: Photoelectron Spectroscopy, Principles and Aplications, Springer Verlag, 2006Andrew Zangwill: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, Cambridge 1992
Garant
RNDr. Josef Mysliveček, Ph.D.prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.