Předmět Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev II (NEVF516)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NEVF516 - Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev II, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Sylabus

1. Přehled a možnosti "tradičních" mikroskopií (transmisní elektronová, rastrovací elektronová, elektronový projektor, iontový projektor), fyzikální principy; charakteristika mikroskopií s rastrující sondou v blízkém poli (SPM). 2. Fyzikální princip rastrovací tunelové mikroskopie (STM), mody zobrazení v STM, meze rozlišení, tunelový jev, spektroskopie tunelujících elektronů, rastrovací tunelová spektroskopie; technická realizace STM, obecné problémy konstrukce mikroskopií s rastrující sondou v blízkém poli, srovnání STM s ostatními technikami. 3. STM a příbuzné techniky: rastrovací tunelová potenciometrie, rastrovací šumová mikroskopie (SNM), mikroskopie a spektroskopie balisticky emitovaných elektron? (BEEM a BEES), kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. 4. Fyzikální principy silových mikroskopií s rastrující sondou (SFM): mikroskopie atomárních sil (AFM), magnetických sil (MFM), elektrických sil (EFM) a techniky zobrazení: (a) stejnosměrné (DC) kontaktní techniky: mód konstantní síly, konstantní výšky, tzv. error mode (chybový mód) s využitím zpětnovazebního signálu, zobrazení laterálních sil, zobrazení s využitím vodivosti hrotu a vzorku (spreading resistance imaging). (b) střídavé (AC) kontaktní techniky: mód s modulací síly, kontaktní EFM, akustická mikroskopie - AFAM a rezonanční spektroskopie. (c) semikontaktní techniky: semikontaktní mod, fázové zobrazení, semikontaktní chybový mód. (d) nekontakní techniky: nekontaktní mód, mód s frekvenční modulací. (e) víceprůchodové techniky: EFM, kapacitní mikroskopie, mikroskopie s Kelvinovou sondou, DC MFM, AC AFM, MFM se zobrazením pomocí disipace energie. Spektroskopie: síla(vzdálenost), zobrazení pomocí adhesivních sil, amplituda(vzdálenost), fáze(vzdálenost), frekvence(vzdálenost), "Full-resonance Spectroscopy". 5. Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (SNOM) resp. rastrovací optická tunelová mikroskopie - fyzikální princip. Shear Force Microscopy. Módy zobrazení: transmisní, reflexní, luminiscenční.

Literatura

Güntherodt H.-J. and Wiesendanger R., Scanning Tunneling Microscopy I (General Principles and Applications to Clean and Adsorbate Covered Surfaces), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 20, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1994Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy III (Theory of STM and Related Scanning Probe Methods), Springer Series in Surf. Sci. 29,Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1993Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992Stroscio J. A. and Kaiser W. J., Scanning Tuneling Microscopy, Methods of Experimental Physics 27, Academic Press, Boston, 1993Metody analýzy povrchů : Elektronová mikroskopie a difrakce (editoři L. Eckertová, L. Frank), Academia, Praha 1996, Mikroskopie na bázi tunelového jevu (Z. Knor), str. 187-229Metody analýzy povrchů : Iontové, sondové a speciální metody (editoři L. Frank, J. Král), Academia, Praha 2002, kapitoly: (a) Rastrovací tunelová mikroskopie (STM) a příbuzné techniky (I. Ošťádal, P. Sobotík), str. 275-297(b) Studium povrchů pomocí mikroskopie s rastrující sondou (V. Cháb), str. 301-320(c) Rastrovací sondové mikroskopie v elektrochemii (P. Janda), str. 323-348(d) Optická tunelová mikroskopie s lokální sondou (P. Tománek), str. 351-379 Monotematicky zaměřená čísla Čs. čas. fyz. A: 48 (No3-4)(1998), 51 (No1)(2001), 53 (No2)(2003)Se zaměřením na SPM techniky a jejich aplikace v ČR (sborníky z národních seminářů)

Garant

doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc.