Předmět Praktická krystalografie (NFPL027)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NFPL027 - Praktická krystalografie, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
1) Krystalografie. Rovinné a prostorové mříže, Millerovy indexy rovin, značení směrů, stereografická projekce, volba základní buňky, transformace os, transformace směrových a Millerových indexů. Reciproké mříže, jejich řezy a změny orientace. Mezirovinné vzdálenosti, úhly mezi rovinami. Prvky symetrie, bodové grupy symetrie, prostorové grupy symetrie, symetricky ekvivalentní polohy, práce s mezinárodními krystalografickými tabulkami. Základní typy struktur, polohy atomů v souvislosti se symetrií krystalů, databáze krystalových struktur, práce s programem VIEW a CRYSTAL OFFICE (zobrazování struktur). 2) Difrakce. Laueho difrakční podmínky, obecné difrakční podmínky, Braggův zákon. Využití reciproké mříže při interpretaci difrakčního záznamu. Určení orientace krystalu Laueho metodou. Určení mřížových parametrů metodou otáčeného krystalu. Určení mřížových parametrů difrakcí na práškovém vzorku. Pravidla vyhasínání reflexí a určení symetrie struktury. Simulace elektronové difrakce v různých rovinách a směrech v reciproké mříži. Identifikace látek a práce s databází difrakčních standardů PDF2. Kvantitativní fázová analýza více krystalických látek ve vzorku. Určení stupně uspořádání struktury na dlouhou vzdálenost. Textura (přednostní orientace krytalitů) a její analýza pomocí difrakce. Srovnání rentgenové, elektronové a neutronové difrakce. Studium povrchů, tenkých vrstev a multivrstev (tloušťka, drsnost rozhraní, hustota, velikost částic, napětí). Studium epitaxních vrstev. Studium amorfních látek a polymerů.
Literatura
1) V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha 1992.2) G. Giacovazzo et al.: Fundamentals of Crystallography 2nd Edition, IUCr, Oxford Science Publications, Oxford 2002.3) L. V. Azároff: Elements of X-ray Crystallography, McGraw-Hill Book Company, New York 1968.4) B. Smola: Transmisní elektronová mikroskopie ve fyzice pevných látek (skripta), SPN, Praha 1983.
Garant
prof. RNDr. Václav Valvoda, CSc.prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.