Předmět Rtg metody studia struktury a mikrostruktury materiálů (NFPL030)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NFPL030 - Rtg metody studia struktury a mikrostruktury materiálů, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
1. Zdroje záření Klasické zdroje, rotační anody, synchrotronové záření, zdroje neutronů 2. Monochromatizace Filtry, typy monochromátorů 3. Detekce záření Filmy, bodové, lineární, plošné detektory 4. Monokrystalové metody Filmové metody - Laue (orientace krystalu), Weissenberg, otáčený krystal, precese Difraktometry - Eulerova kolébka, kappa geometrie 5. Filmové práškové metody - Debye-Scherrerova metoda, Guinier 6. Informace obsažená v konvenčním práškovém difraktogramu. Stručný přehled základních metod práškové difrakce - upřesňování struktury z prášků, kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, studium mřížových parametrů, teplotních kmitů, velikostí částic, mikronapětí. 7. Zpracování práškového difraktogramu. Určení parametrů profilů difrakčních linií přímou metodou a pomocí aproximace analytickými funkcemi. 8. Přehled základních geometrií v rtg. difraktometrii. Konvenční prášková metoda, goniometry psi, omega, Seemannův- Bohlinův goniometr, vliv instrumentálních faktorů a absorpce. Hloubka průniku rtg. záření. 9. Identifikace neznámé fáze 10. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza 11. Určování mřížových parametrů 12. Rietveldova metoda zpřesňování struktur 13. Měření zbytkových napětí Klasifikace napětí, popis napětí, metoda sin^2 psi, měření dvojosých napětí filmovými a difraktometrickými metodami 14. Textury. ODF, měření textury na texturním goniometru, vláknité textury a jejich charakterizace pomocí konvenčního práškového difraktometru, jednoduché metody popisu textur (psi a omega skeny) 15. Studium profilů difrakčních linií. Korekce na instrumentální rozšíření, separace efektů mikronapětí a malé velikosti částic aproximačními metodami. 16. Studium velikosti, tvaru a rozdělení velikostí krystalitů v oboru 5 nm - 10000 nm. 17. Studium struktury amorfních materiálů. Difrakce a EXAFS 18. Základní metody řešení krystalových struktur Pattersonovské metody, přímé metody
Literatura
V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč : Základy strukturní analýzy. Karolinum. Praha. 1992. I. Kraus : Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985. I. Kraus., V.V. Trofimov : Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988. Quantitative Texture Analysis. ed. H.J. Bunge, C. Esling. DGM. Oberursel. 1982. Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kužel. Difrakcia na polykryštalických látkach.R & D. Print. Bratislava. 1994. red. L. Smrčok. dále vybrané články z časopisů.
Garant
prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D.