Předmět Elektronová mikroskopie s atomovým rozlišením (NFPL079)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NFPL079 - Elektronová mikroskopie s atomovým rozlišením, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
1) Interakce elektronů s krystalem Schrödingerova rovnice a krystalový potenciál, aproximace difrakce pod malými úhly, Glauberova aproximace, výpočet vlnových funkcí (metoda multivrstev, Blochovy vlny). 2) Přenos informace v elektronovém mikroskopu Impulsová odezva a přenosová funkce. Skalární teorie difrakce - Fresnelova a Fraunhoferova aproximace. Zobrazení ideální čočkou, reálné elektronové čočky a jejich vady (korigovatelné a nekorigovatelné), koherentní přenosová funkce, přenos amplitudy a intenzity. Částečná koherence elektronového svazku. 3) Interpretace snímků s atomovým rozlišením - simulace Software EMS : konstrukce modelu krystalu, fázová funkce, Fresnelův propagátor, vlnová funkce, obraz - přenos kontrastu, prezentace simulací (min. a max. intenzity, citlivost filmu, PostScript výstup), profil intenzity simulace, přenosová funkce a její obalové křivky. 4) Praktické podmínky pro získání interferenčního obrazu Orientace krystalu, tloušťka vzorku, korekce astigmatismu, korekce "coma free", velikost objektivové clony. 5) Příprava vzorků Elektrolytické leštění, iontové bombardování, štípání křehkých materiálů, elektrochemické nanášení vrstev, naprašování, napařování.
Literatura
1. KARLÍK, M. (2001) Lattice imaging in transmission electron microscopy, Materials Structure, 8, 2001, 3-15. 2. WILLIAMS D.B., CARTER C.B. Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, 1996. 3. REIMER, L., Transmission Electron Microscopy, Springer-Verlag, 1989. 4. STADELMANN, P. A., EMS - A software package for electron diffraction analysis and HREM image simulation in materials science, Ultramicroscopy 21, 1987, 131-146.
Garant
prof. RNDr. Miroslav Karlík, Dr., Ph.D.