Předmět Jaderné analytické metody (NJSF024)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu NJSF024 - Jaderné analytické metody, Matematicko-fyzikální fakulta, Univerzita Karlova v Praze (UK).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Sylabus
Přehled základů kinematiky elastických procesů. Rutherfordův rozptyl - kinematika, účinný průřez rozptylu nabité částice, metoda elastického rozptylu nízkoenergetických iontů LEIS (Low Energy Ion Scattering), energetické ztráty lehkých iontů v materiálu, hloubkové profilování, RBS (Rutherford Backscattering Spectroscopy) a dopředný elastický rozptyl pro detekci lehkých prvků (Elastic Recoil Detection Analysis)Prvková analýza s využitím iontových svazků. Metoda rentgenfluorescence buzení iontovými svazky PIXE, hloubkové profilování pomocí odprašování povrchové vrstvy SIMS, SNMS, studium krystalických látek, příměsí v intersticiálních polohách pomocí metody RBS-channeling, detekční limity, hloubkové rozlišení a analytické možnostiAktivační analýza a jaderné reakce. Aktivační analýza nabitými částicemi a neutrony CPAA, NAA, využití jaderných reakcí pro analýzu materiálů NRA, RNRA, PIGE. Hloubkové profilování lehkých prvků s využitím neutronů (NDP)Zdroj urychlovaných částic - urychlovač. Urychlovače pro jaderné aplikace - cyklotron, elektrostatické urychlovače produkující iontové svazky pro analýzy materiálůMössbauerovská spektroskopie, jaderná magnetická rezonance a jejich využití: Zkoumání látek a jejich prvkového složení pomocí magnetických vlastností. Využití jaderné magnetické rezonance v lékařství, biologii a organické chemiiExkurze na pracoviště zabývající se jadernými analytickými metodami v ÚJF AV ČR Řěž RBS, PIXE, PIGE, NRA.Jaderný reaktor - NDP, NAACyklotron - výroba radiofarmak
Literatura
J. R. Bird and J. S. Williams (eds) (1989), Ion Beams for Materials Analysis, Academic Press, Sydney.J. R. Tesmer and M. Nastasi (1995) Handbook of Modern Ion Beam Materials, Analysis, Material Research Society, Pitsburg, L. C. Feldman, J. W. Mayer, S. T. Picraux, (1982) Materials Analysis by Ion Channeling, Academic Press, New YorkR. G. Wilson, F. A. Stevie, C. W. Magee, (1989) Secondary Ion Mass Spectrometry, John Wiley & Sons, Inc., New York.C. G. Herbert, R. A. W. Johnstone, (2003) Mass Spectrometry Basics, CRP Press, New York.A. Mackova, S. A. Morton, C. G. H. Walker, K. Volka, Surface Analysis Techniques in: Handbook of Spectroscopy, Wiley- Verlag GmbH & Co., Weinheim, Germany, 2003, Editors: G. Gauglitz, T. Vo-Dinh.
Garant
RNDr. Anna Macková, Ph.D.