Předmět Číslicové měřicí systémy (KEF / BCMS)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KEF / BCMS - Číslicové měřicí systémy, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
- Číslicový měřicí systém (využívající počítač vs. autonomní přístroj), základní dělení a konstrukce, struktura (sběrnice, hvězda, kruh, strom), centralizované/decentralizované měřicí systémy, otevřené/uzavřené měřicí systémy, laboratorní měřicí systémy, standardizace přístrojových rozhraní.- Standardní rozhraní, RS-232, RS-485, IEEE 488 (GPIB), USB, IEEE 1394 (FireWire), modulární systémy, průmyslové systémy, VME, VXI, CompactPCI, PXI, PC/104, MXI, přístrojová rozhraní průmyslových měřicích systémů, Foundation Fieldbus, Profibus, CAN.- Zásuvné měřicí desky do PC, virtuální instrumentace, multifunkční karty, programové prostředky, VISA ovladače, vývojová prostředí pro měřicí aplikace, programování měřicích systémů, standard SCPI.- LabVIEW, grafické vývojové prostředí, princip konstrukce VI, čelní panel, blokový diagram, SubVI, práce s proměnnými, programové struktury, datové typy proměnných a konstant, čísla, řetězce, pole, klastry, LabVIEW projekt, tvorba aplikací, instalátor.- Programování číslicových měřicích systémů, využití sériové linky RS-232, tvorba aplikací využívajících multifunkční měřicí karty (NI 6024E, NI USB-6215), tvorba aplikací v měřicím systému GPIB (karta rozhraní NI PCI-GPIB), komunikace s digitálním multimetrem.- Využití standardu SCPI, základní dělení přístrojů, nejčastější příkazy, VISA ovladače, IVI ovladače.- Pokročilé programování v LabVIEW.
Získané způsobilosti
Předmět zaměřený na získání znalostí.Definovat hlavní pojmy, popsat hlavní přístupy, prokázat teoretické znalosti pro řešení modelových problémů.
Literatura
Haasz V., Roztočil J., Novák J. Číslicové měřicí systémy. ČVUT Praha, 2000. Haasz, V.; Roztočil, J.; Novák, J. Číslicové měřicí systémy. ČVUT, Praha, 2000. Haasz, V.; Sedláček, M. Elektrická měření. Přístroje a metody. ČVUT, Praha, 2000. Vedral, J.; Fischer, J. Elektronické obvody pro měřicí techniku. ČVUT, Praha, 1999. Vedral J. , Fischer, J. Elektronické obvody pro měřicí techniku. ČVUT Praha, 1999. Sydenham, P. Thor, R. (eds). Handbook of Measuring System Design. Wiley, 2005. De Asmundis, R. (ed). LabVIEW - Modeling, Programming and Simulations. InTech, Rijeka, 2011. Silviu, F. (ed). LabVIEW - Practical Applications and Solutions. InTech, Rijeka, 2011. LabVIEW Measurement Manual. National Instruments. LabVIEW Measurement Manual. National Instruments. LabVIEW User Manual. National Instruments. LabVIEW User Manual. National Instruments. Tumanski, S. Principles of Electrical Measurement. Series in sensors. Taylor & Francis, New York, 2006. Šnorek, M.; Richta, K. Připojování periferií k PC. Grada Publishing, Praha, 1996. Kainka, B.; Berndt, H.J. Využití rozhraní PC pod Windows. HEL, Ostrava, 2000. Kainka, B., Berndt, H.J. Využití rozhraní PC pod Windows - měření, řízení a regulace pomocí standardních portů PC. HEL, Ostrava, 2000. Vlach J. a kol. Začínáme s LabVIEW. BEN technická literatura, Praha, 2008. Pechoušek, J. Základy programování v LabVIEW. Vydavatelství UP, Olomouc, 2004.
Požadavky
Složení zkoušky, písemná a ústní část.Vykonání praktické úlohy (zápočet).Aktivní účast v hodině, plnění zadaných úkolů.
Garant
doc. RNDr. Jiří Pechoušek, Ph.D.