Předmět Nanometrologie (KEF / NMT)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KEF / NMT - Nanometrologie, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
Metrologie, standardizace, nejistoty, metrologická návaznostDélková nanometrologie - problémy spojené s malými rozměry, metrologické AFM, standardy, vyhodnocování, popis povrchůNanometrologie úhlů, hmotnosti, síly a dalších veličinKvantové etalony základních fyzikálních veličin
Získané způsobilosti
Popsat aplikaci metrologických principů v nanotechnologiích
Literatura
Leach R. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010. Whitehouse D. J. Handbook of Surface and Nanometrology. IOP, 2003. Mlčoch J., Rössler T. Teorie měření a experimentu. Vydavatelství UP, Olomouc, 2005.
Požadavky
Znalosti v rozsahu programu předmětu
Garant
Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.
Vyučující
Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.