Předmět Moderní mikroskopické metody (KEF / PGSMM)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KEF / PGSMM - Moderní mikroskopické metody, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
---|
Další informace
Obsah
Světelná mikroskopieMetoda fázového kontrastu, UV a IČ mikroskopie, Fluorescenční mikroskopie, Polarizační mikroskopie, Interferenční mikroskopie (Nomarského interferenční kontrast, Hofmanův modulační kontrast), Konfokální laserová mikroskopie, Optická skenovací mikroskopiev blízkém poli.Elektronová mikroskopieTransmisní elektronová mikroskopie, Rastrovací elektronová mikroskopie, Nízkonapěťová elektronová mikroskopie, Elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením, Elektronová mikroskopie s volitelným vakuem (biologické aplikace).Mikroskopie skenující sondouSkenující tunelová mikroskopie, Mikroskopie atomárních sil, Mikroskopie magnetických sil, Mikroskopie elektrostatických sil, Mikroskopie laterálních sil, Skenovací kapacitní mikroskopie, Skenovací teplotní mikroskopie, Skenovací optická mikroskopie v blízkém poli.
Získané způsobilosti
Předmět zaměřený na schopnost pochopení principů optických, elektronoptických metod a metod využívajících skenující sondy. Hodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry.
Literatura
Vůjtek, M., Kubínek, R., & Mašláň, M. Nanoskopie. V Olomouci: Univerzita Palackého, 2012. ISBN 978-80-244-3102-4.Douglas B. Murphy. Fundamentals of Ligt Microscopy and Electronic Imagin. Wiley-Liss, 2001. http://www.upol.cz/resources/exfyz/bf/expmet1.htmKubínek, R., Mašláň, M., Vůjtek, M. Mikroskopie skenující sondou. UP Olomouc, 2002. Reimer, L. Scanning Electron Microscopy.Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer, 1998.
Požadavky
Znalost teoretickch základů mikroskopických metod a jejich využití v praxi
Garant
doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.
Vyučující
doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.