Předmět Rastr. sond. mikroskopie a její aplikace (KEF / PGSRM)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KEF / PGSRM - Rastr. sond. mikroskopie a její aplikace, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
Rastrovací tunelovací mikroskopie - STM, princip mikroskopie atomárních sil ? AFM, kontaktní režim AFM, nekontaktní režim AFM, periodický režim AFM, MFM-mikroskopie magnetických sil, LFM-mikroskopie příčných sil, další mikroskopické techniky využívající skenující sondy (SPM), SPM-nástroj pro analýzu povrchů, prostředí SPM, skener, konstrukce skeneru, vady skeneru, softwarová korekce, hardwarová korekce, test linearity skeneru, raménka s hroty, vady obrazu, konvoluce hrotu a povrchu, zpětnovazební artefakty, možnosti obrazové analýzy, testování artefaktů, aplikace.
Získané způsobilosti
Předmět zaměřený na schopnost hodnoceníHodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry.
Garant
doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.
Vyučující
doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.