Předmět Mikroskopie skenující sondou a její apl. (KEF / PGSSO)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu KEF / PGSSO - Mikroskopie skenující sondou a její apl., Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
Skenovací tunelová mikroskopie - STM, princip mikroskopie atomárních sil. AFM, kontaktní režim AFM, nekontaktní režim AFM, periodický režim AFM, MFM-mikroskopie magnetických sil, LFM-mikroskopie příčných sil, další mikroskopické techniky využívající skenující sondy (SPM), SPM-nástroj pro analýzu povrchů, prostředí SPM, skener, konstrukce skeneru, vady skeneru, softwarová korekce, hardwarová korekce, test linearity skeneru, raménka s hroty, vady obrazu, konvoluce hrotu a povrchu, zpětnovazební artefakty, možnosti obrazové analýzy, testování artefaktů, aplikace.
Získané způsobilosti
Předmět zaměřený na schopnost zvládnou teoretické základy experimentálních metod a užít je v praxi. Hodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry.
Literatura
Vůjtek, M., Kubínek, R., & Mašláň, M. Nanoskopie. V Olomouci: Univerzita Palackého, 2012. ISBN 978-80-244-3102-4.http://atmilab.upol.cz/brozura.html - e-verze učebního textu. Kubínek, R.-Mašláň, M.-Vůjtek, M. Mikroskopie skenující sondou. UP Olomouc, 2003. Bonnel, D. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications. Wiley, 2001. Meyer E., Hug H. J., Bennewitz R. Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip by. Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, New York, 2004.
Požadavky
Teoretická znalost metod SMP a jejich praktických aplikací
Garant
doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.
Vyučující
doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.