Předmět Měřicí metody (OPT / MMX)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu OPT / MMX - Měřicí metody, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
1.Příprava experimentu a měření2.Metody řízení experimentů.3.Zpracování experimentálních dat.4.Automatizované systémy měření (IMS, RS 232, ...)5.Zpracování souboru vlastních experimentálních dat.6.Fitovací postupy - nalezení parametrů struktur z exp. dat.7.Detekce slabých optických signálů, měření rozptýleného záření, optické konstanty pevných látek ajejich měření8.Interfernční metody, FFT, netradiční postupy.
Získané způsobilosti
Předmět zaměřený na získání znalostí.Definovat hlavní pojmy, popsat hlavní přístupy, prokázat teoretické znalosti pro řešení modelových problémů.
Literatura
J.Brož a kol. : Základy fyzikálních měření, díl 1 a 2, SNTL, Praha H. Frank : Měřící metody polovodičů, ČVUT Praha 1967 Annual Book of ASTM Standards, 1998, 1999, 2000, 2001 M. Horák, A.Vítek : Zpracování a interpretace vibračních spekter, SNTL, Praha 1980 L.Kubáček, A.Pázmán : Štatistické metódy v meraní, VEDA, Bratislava 1979 J. Dlouhá : Mössbauerův jev a jeho využití, SNTL, Praha 1968 L. C. Feldman, J.W.Mayer : Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North-Holland, New York 1986 A.V.Rakov : Spektroskopija tonkoplenočnych poluprovodnikovych struktur, Sovetskoe radio, Moskva 1975 G.Busch, U.Winkler : Bestimmung der Charakteristischen Grössen eines Halbleiters, Ergebnisse der Exakten Naturwüssenschaften 29 (1956), 145 Aktuality technologie a konstrukce polovodičových součástek Tesla, díl 22, Dům techniky Ostrava 1988 .
Požadavky
Znalosti v rozsahu přednášené problematiky.
Garant
Dr. Ing. Zdeněk Řehoř
Vyučující
Dr. Ing. Zdeněk ŘehořDr. Ing. Zdeněk Řehoř