Jak Začít?

Máš v počítači zápisky z přednášek
nebo jiné materiály ze školy?

Nahraj je na studentino.cz a získej
4 Kč za každý materiál
a 50 Kč za registraci!




Předmět Experimentální techn. a měř. metody 2 (SLO / EXTM2)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu SLO / EXTM2 - Experimentální techn. a měř. metody 2, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).

Top 10 materiálů tohoto předmětu

Materiály tohoto předmětu

Materiál Typ Datum Počet stažení

Další informace

Obsah

1. ZÁKLADNÍ OPTICKÉ POJMY (opakování)- Jev koherence (časová a prostorová koherence).- Optická interference a difrakce (fyzikální princip, základní vztahy).- Interferometry a jejich využití v praxi.- Optická Fourierova transformace. Prostorová filtrace.2. ZÁKLADNÍ POJMY TEORIE DEFORMACE A NAPĚTÍ TĚLES (opakování)- Přehled základních vztahů. Pojem napětí a deformace v teorii a experimentu. Deformace obecného tělesa. Fyzikální pojetí a vztahy. Rovinná napjatost a deformace. Tenzor deformace, tenzor napětí.3. HOLOGRAFIE- Youngův pokus. Holografie - fyzikální principy a historický vývoj. Moderní holografie. Záznam a rekonstrukce vlnového pole. Záznamové materiály. Vlastnosti a třídění hologramů.- Zobrazovací vlastnosti plošného hologramu. Objemový hologram.- Holografická interferometrie. Experimentální realizace a problémy holografie. Vyhodnocení holografických interferogramů. Holografie časově proměnných jevů.- Aplikace holografie - kontrola tvaru, tenzor deformace (posuv, rotace, deformace), fázové jevy, aplikace v termomechanice, v hydromechanice, měření chvění, rázů aj.- Polarizační holografie, akustická holografie, holografie na bázi koherenční zrnitosti, počítačová (digitální) holografie a jejich použití.4. OPTICKÉ ZPRACOVÁNÍ INFORMACÍ- Srovnání optických procesorů a elektronických počítačů, historický vývoj, vybrané základní pojmy.- Optické a optoelektronické prvky pro konstrukci optických procesorů, jejich základní principy a využití - čočka, děliče svazku, optické mřížky, optické vlnovody, modulátory světla (SLM, MDM, SiOM, DLP, akustooptické, vlnovodné), maticové detektory (na bázi technologie CCD a CMOS).- Vybrané aplikace - multiplikátor matice a vektoru, optický korelátor, optický multiplexor a demultiplexor, optická pamět, holografický disk.5. OPTICKÉ MĚŘICÍ METODY NA BÁZI KOHERENČNÍ ZRNITOSTI- Náhodný proces a jeho klasifikace.- Jev koherenční zrnitosti - základní pojmy. Subjektivní a objektivní koherenční zrnitost. Fraktálová koherenční zrnitost. Posuv a dekorelace pole koherenční zrnitosti.- Statistické vlastnosti koherenční zrnitosti.- Měřicí metody na bázi koherenční zrnitosti - Fotografie na bázi koherenční zrnitosti a její digitální modifikace, ESPI (Electronic Speckle-Pattern Interferometry), DESPI (Digital Electronic Speckle-Pattern Interferometry), Korelace polí koherenční zrnitosti (měření rotací, translací, vibrací, malých deformací, aj.).

Získané způsobilosti

Předmět zaměřený na získání znalostí.Připomenout základní optické jevy (koherence, interference, difrakce), objasnit principy vybraných moderních optoelektronických prvků, objasnit principy vybraných základních optických měřicích metod (interferometrické, holografické, na bázi koherenční zrnitosti, ...), aplikovat znalosti vybraných základních optických měřicích metod na měření vybraných fyzikálních veličin (složky tenzoru deformace a veličin z nich odvozených, ...).

Literatura

http://www.dantecdynamics.com/Default.aspx?ID=530Rastogi P.K., ed. Digital speckle pattern interferometry and related techniques. John Wiley & Sons, Ltd., Chichester, 2001. Bass M., ed. Handbook of Optics. McGraw-Hill, Inc., New York, 1995. Miler M. Holografie. SNTL Praha, 1974. Wolf E. Introduction to the Theory of Coherence and Polarization of Light. Cambridge University Press, 2007. ISBN 978-0-521-82211-4.Hrabovský M., Bača Z., Horváth P. Koherenční zrnitost v optice. UP Olomouc, 2001. Gasvik K.J. Optical Metrology. John Wiley & Sons, Ltd., Chichester, 2002. ISBN 0-470-84300-4.Efron U., ed. Spatial Light Modulator Technology: materials, devices, and applications. Marcel Dekker, Inc., New York, 1995. ISBN 0-8247-9108-8.Sirohi R. S., ed. Speckle Metrology. Marcel Dekker, Inc., New York, 1993. Goodman J.W. Speckle phenomena in optics: theory and applications. Roberts and Company Publishers, Greenwood Village, 2007. Saleh B.E.A., Teich M.C. Základy fotoniky (díl 1-4), (česky překlad "Fundamentals of Photonics", J. Wiley&Sons, Inc., New York). Matfyzpress, UK Praha, 1994.

Požadavky

Účast ve výuce.Složení ústní zkoušky.

Garant

prof. RNDr. Miroslav Hrabovský, DrSc.

Vyučující

RNDr. Pavel Horváth, Ph.D.prof. RNDr. Miroslav Hrabovský, DrSc.RNDr. Petr Šmíd, Ph.D.RNDr. Pavel Horváth, Ph.D.prof. RNDr. Miroslav Hrabovský, DrSc.RNDr. Petr Šmíd, Ph.D.