Předmět Prakt. z exp. tech. a měř. metody 2 (SLO / PEXT2)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu SLO / PEXT2 - Prakt. z exp. tech. a měř. metody 2, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
ANALÝZA POVRCHU MATERIÁLU- Měření tvaru a prostorové struktury povrchu strojírenských součástí a optických prvků pomocí kontaktního drsnoměru Taylor-Hobson TALYFORM- Stanovení drsnosti povrchu leštěných součástí pomocí skaterometru CASI- Využití přenosného drsnoměru pro optimalizaci technologie optických prvkůHODNOCENÍ OPTICKÝCH PRVKŮ- Optické metody pro vyhodnocování tvaru a rozměrových parametrů zrcadlových ploch; sférointerferometr Meopta- Mechanické měřicí metody pro kontrolu geometrických tvarů součástí- Optická přenosová funkce, objektivní metoda hodnocení kvality optických systémů, přístroj EROS- Metody měření reflektivity optických povrchů a tenkých vrstev- Měření pomocí optického goniometruINTERFEROMETRY PRO MĚŘICÍ ÚČELY- Podmínky vzniku iterferenčního jevu, viditelnost interferenčních proužků, měření deformace plochy- Typy interferometrů a jejich využití v měřicích metodách. Michelsonův interferometr pro měření malých posuvů- Interference v bílém světleMIKROSKOPY- Mikroskop jako přístroj pro měření malých vzdáleností- Zobrazení struktury technických povrchů pomocí laserového konfokálního mikroskopu Olympus LEXT- Universální mikroskop Zeiss s mikrotvrdoměrem
Získané způsobilosti
Předmět zaměřený na získání schopnosti aplikace poznatků.Využít vybrané optické a mechanické měřicí metody pro analýzu povrchu materiálu, hodnocení optických prvků, měření deformace plochy a malých posuvů, použít vybrané typy mikroskopů pro měřicí a zobrazovací účely.
Literatura
Karow H.H. Fabrication Methods for Precision Optics. John Wiley & Sons, Inc., New York, 1993. DeCusatis C. Handbook of Applied Photometry. OSA and Springer-Verlag New York, Inc., 1998. Miler M. Holografie. SNTL Praha, 1974. Schovánek P., Havránek V. Chyby a nejistoty měření. Hrabovský M., Bača Z., Horváth P. Koherenční zrnitost v optice. UP Olomouc, 2001. Havránek V. Měření OTF. Stover J.C. Optical Scattering. SPIE, Washington, 1995. Malacara D. Optical shop testing. John Wiley, New York, 1992. Schröder G. Technická optika. SNTL, Praha, 1991. Saleh B.E.A., Teich M.C. Základy fotoniky (díl 1-4), (česky překlad "Fundamentals of Photonics", J. Wiley&Sons, Inc., New York). Matfyzpress, UK Praha, 1994.
Požadavky
100 % účast na cvičeních.Vypracování a odevzdání všech protokolů podle požadavků vyučujícího.
Garant
prof. RNDr. Miroslav Hrabovský, DrSc.
Vyučující
RNDr. Ing. Vítězslav HavránekRNDr. Helena HiklováRNDr. Hana ChmelíčkováMgr. Dušan Mandát, Ph.D.Mgr. Libor Nožka, Ph.D.Mgr. Miroslav Pech, Ph.D.RNDr. Petr SchovánekMgr. Jan Tomáštík