Předmět Optika tenkých vrstev v technické praxi (SLO / TVP)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu SLO / TVP - Optika tenkých vrstev v technické praxi, Přírodovědecká fakulta, Univerzita Palackého v Olomouci (UP).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Obsah

1. Charakteristika tenkých vrstev - vymezení pojmu optická tenká vrstva (TV), interference v částečně koherentním světle, základní vlastnosti TV, příklady výskytu v přírodě.2. Metody vytváření tenkých vrstev - fyzikální a chemické metody depozice TV, řízení procesu depozice, vlastnosti materiálů a požadavky na jejich kvalitu, měření optických vlastností TV, základy elipsometrických měření a jejich vyhodnocení.3. Příklady použití tenkých vrstev - antireflexe, dielektrické odražeče, dichroické filtry, úzkopásmové filtry, polarizační děliče, speciální interferenční filtry.4. Teoretické základy analýzy soustav tenkých vrstev - výpočet amplitudových a výkonových reflexí a transmisí, ukázky algoritmů a výsledků výpočtů pro analýzu TV, význam principu reverzibility pro makroskopické parametry.5. Tlusté vrstvy - postup výpočtu parametrů soustav tenkých a tlustých vrstev.6. Konstrukční metody - půlvlnová vrstva, buffer vrstva, symetrické soustavy TV, počítačová optimalizace parametrů TV, ukázky algoritmů a výsledků výpočtů.7. Vlastnosti jedné tenké vrstvy - včetně reflexe prostého rozhraní, Brewsterův úhel, totální reflexe, návrh jednoduché antireflexe.8. Návrh vícevrstvých antireflexí.9. Návrh vysoce odrazných soustav tenkých vrstev - se zadanou šířkou pásma a velikostí zvýšené reflexe, vyhlazení bočních maxim, optimalizační algoritmy.10. Návrh MacNeillova polarizátoru.11. Návrh Fabryho-Perotova filtru.

Získané způsobilosti

Předmět zaměřený na získání znalostí.Připomenout šíření elektromagnetických vln ve vrstevnatém prostředí, určit měřitelné parametry tenkých a tlustých vrstev a jejich kombinací, popsat konstrukci základních vrstevnatých systémů pro interferenční filtry pomocí analytického a numerického přístupu.

Literatura

Pulker H. K. Coatings on glass. ISBN 0-444-42360.Stratton, J.A. Electromagnetic Theory. McGraw-Hill, New York, 1941. Azzam R. M. A., Bashara N. M. Ellipsometry and Polarized Light. North-Holland Personal Library, 1987. Eckertová, L. Fyzika tenkých vrstev. SNTL, Praha, 1974. Heavens O. S. Optical Properties of Thin Solid Films. Dover Publications, Inc., 1991. Knittl, Z. Optics of thin films. John Wiley & Sons, London - New York - Sydney - Toronto, 1976. Křepelka, J. Optika tenkých vrstev. Univerzita Palackého Olomouc, 1993. Born M., Wolf E. Principles of Optics. Pergamon Press Oxford, 1968. Tompkins H. G., McGahan W. A. Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User s Guide. Wiley, John & Sons, Inc., 1999. Smith D. L. Thin-film deposition. McGraw-Hill, 1995. MacLeod H. A. Thin-film optical filters. MacMillan, New York, 1986. http://aix.upol.cz/~krepelka/films.htm

Požadavky

Porozumění fyzikálním principům stojícím za optikou tenkých vrstev, schopnost samostatného návrhu základních soustav tenkých vrstev s využitím analytických výsledků a případně výpočetní techniky.

Garant

Ing. Jaromír Křepelka, CSc.

Vyučující

Ing. Jaromír Křepelka, CSc.