Předmět Diagnostika čísl. syst. (AUEM / A9DCS)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu AUEM / A9DCS - Diagnostika čísl. syst., Fakulta aplikované informatiky, Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně (UTB).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Obsah

- Úvod, Technologické aspekty diagnostiky, Základní pojmy diagnostiky.- Testování elektronických prvků, testování analogových a číslicových obvodů, modely poruch.- Diagnostika číslicových obvodů - Strukturní testy, zcitlivění cesty,D-algoritmus a jeho modifikace.- Diagnostika číslicových obvodů - Funkční testy, Náhodné a pseudonáhodné testy, Diagnostika sekvenčních obvodů.- Diagnostika pamětí, Typy pamětí a struktura, Testovací vzorky pamětí a jejich diagnostická hodnota, Diagnostika vstupně-výstupních obvodů .- Diagnostika obvodů velké integrace, technologické aspekty, zdroje poruch, metody testování.- Zahořovací testy a testy životnosti.- Spolehlivost, Terminologie, Spolehlivostní modely objektů, Spolehlivost součástek, subsystémů, systémů, Určování spolehlivosti podle vnitřní struktury.- Principy automatických testerů, Testování spojových desek, Testovaní osazených modulů.- Automatizace generování testu, Minimalizace testu, Pseudotriviální testy, Zabezpečení proti poruchám.- Komprese diagnostických dat, Příznaková analýza .- Návrh pro snadnou diagnostiku, Vestavěné diagnostické prostředky.- Vestavěná podpora pro diagnostiku - Boundary Scan, Standard 1149.x, Možnosti a varianty testování s vestavěnou podporou pro diagnostiku.- SMT - technologie povrchové montáže, principy, specifika součástkových pouzder, typické technologie a zařízení.

Získané způsobilosti

Po absolvování předmětu se student dokáže orientovat v problematice diagnostiky a testování v elektronice. Je schopen používat základní diagnostické přístupy a techniky a dále je rozvíjet při uplatnění v průmyslovém a vývojovém prostředí.

Literatura

Hlavička, J., a kol. Diagnostika elektronických číslicových obvodů. Praha : SNTL, 1982. Hlavička, J. a kol. Diagnostika mikroprocesorových systémů. Praha : ČSVTS, 1985. Miczo, A. Digital Logic Testing and Simulation. John Wiley & Sons, 2003. Bushnell, M.L., Agrawal, V.D. Essentials of Electronic Testing for Digital Memory and Mixed- Signal VLSI Circuits. Springer, 2004. Focus on In-Circuit Testing. Firemní literatura GenRad. GenRad, 1998. Časopisy. Journal of Electronic Testing (Publisher: Kluwer Academic Publishers). Časopisy. Sdělovací technika (ČR), Electronic Design (USA), Computer Design (USA), Elektronik (SRN). Drábek, V. Spolehlivost a diagnostika. Brno : VUT, 1986. Jha, N. K., Gupta, S. Testing of Digital Systems. Cambridge University Preses, 2003. Maunder, S. The Board Designer´s Guide to Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publ. Comp., 1992. Hlavička, J. Diagnostika a spolehlivost. ČVUT Praha, 1998. Navrátil, Z., Tobola, P. Diagnostika číslicových systémů. Praha : Mezinárodní organizace novinářů, 1991. ISBN 80-214-0254-7.Hlavička, J. Spolehlivost a diagnostika. Praha : ČVUT, 1989.

Požadavky

Způsob zakončení předmětu - zkouškaAbsolvování laboratorních cvičení uzavřených příslušným protokolem, případně zpracování projektu vybraného z aktuálních tématických okruhů. Ústní zkouška zaměřená na prokázání znalostí a porozumění danému tématickému rozsahu po náhodném výběru dvou otázek a písemné přípravě.

Garant

Ing. Petr Neumann, Ph.D.

Vyučující

Ing. Petr Neumann, Ph.D.Ing. Petr Neumann, Ph.D.Ing. Karel Perůtka, Ph.D.Ing. Stanislav PlšekIng. Petr Skočík