Předmět Diagnostika čísl. syst. (AUEM / AADCS)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu AUEM / AADCS - Diagnostika čísl. syst., Fakulta aplikované informatiky, Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně (UTB).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Obsah

- Úvod, Technologické aspekty diagnostiky, Základní pojmy diagnostiky.- Testování elektronických prvků, testování analogových a číslicových obvodů, modely poruch.- Diagnostika číslicových obvodů - Strukturní testy, zcitlivění cesty, D-algoritmus a jeho modifikace.- Diagnostika číslicových obvodů - Funkční testy, Náhodné a pseudonáhodné testy, Diagnostika sekvenčních obvodů.- Diagnostika pamětí, Typy pamětí a struktura, Testovací vzorky pamětí a jejich diagnostická hodnota, Diagnostika vstupně-výstupních obvodů .- Diagnostika obvodů velké integrace, technologické aspekty, zdroje poruch, metody testování.- Zahořovací testy a testy životnosti.- Spolehlivost, Terminologie, Spolehlivostní modely objektů, Spolehlivost součástek, subsystémů, systémů, Určování spolehlivosti podle vnitřní struktury.- Principy automatických testerů, Testování spojových desek, Testovaní osazených modulů.- Automatizace generování testu, Minimalizace testu, Pseudotriviální testy, Zabezpečení proti poruchám.- Komprese diagnostických dat, Příznaková analýza .- Návrh pro snadnou diagnostiku, Vestavěné diagnostické prostředky.- Vestavěná podpora pro diagnostiku - Boundary Scan, Standard 1149.x,Možnosti a varianty testování s vestavěnou podporou pro diagnostiku.- SMT - technologie povrchové montáže, principy,specifika součástkových pouzder,typické technologie a zařízení.

Získané způsobilosti

Po absolvování předmětu se student dokáže orientovat v problematice diagnostiky a testování v elektronice. Je schopen používat základní diagnostické přístupy a techniky a dále je rozvíjet při uplatnění v průmyslovém a vývojovém prostředí.

Literatura

Časopis. Computer design. USA. Hlavička, J. a kol. Diagmostika elektronických číslicových obvodů. SNTL Praha, 1982. Hlavička, J. a kol. Diagnostika mikroprocesorových systémů. Praha : ČSVTS, 1985. Miczo, A. Digital Logic Testing and Simulation. John Wiley & Sons, 2003. Časopis. Electronic Design. USA. Časopis. Elektronik. SRN. Bushnell, M.L., Agrawal, V.D. Essentials of Electronic Testing for Digital Memory and Mixed- Signal VLSI Circuits. Springer, 2004. Focus on In-Curcuit Testing. Firemní literatura GenRad. GenRad, 1998. nullČasopis. Journal of Electronic Testing. Kluwer Academic Publishers. Časopis. Sdělovací technika. ČR. Drábek, V. Spolehlivost a diagnostika. Brno : VUT, 1986. Jha, N. K., Gupta, S. Testing of Digital Systems. Cambridge Digital Systems. Cambridge University Preses, 2003. Maunder, C. The Board Designer´s Guide to Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publ. Comp, 1992. Navrátil, Z., Tobola, P. Diagnostika číslicových systémů. Brno : VUT, 1991. Hlavička, J. Spolehlivost a diagnostika. Praha : ČVUT, 1989.

Požadavky

Způsob zakončení předmětu - zkouškaAbsolvování seminářů podle rozvrhu. Ústní zkouška zaměřená na prokázání znalostí a porozumění danému tématickému rozsahu po náhodném výběru jedné otázky a písemné přípravě.

Garant

Ing. Petr Neumann, Ph.D.

Vyučující

Ing. Petr Neumann, Ph.D.