Předmět Diagnostika a testování (AUPKS / AWIDT)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu AUPKS / AWIDT - Diagnostika a testování, Fakulta aplikované informatiky, Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně (UTB).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Obsah
- Úvod, Technologické aspekty diagnostiky, Základní pojmy diagnostiky.- Testování elektronických prvků, testování analogových a číslicových obvodů, modely poruch.- Diagnostika číslicových obvodů - Strukturní testy, zcitlivění cesty, D-algoritmus a jeho modifikace.- Diagnostika číslicových obvodů - Funkční testy, Náhodné a pseudonáhodné testy, Diagnostika sekvenčních obvodů.- Diagnostika pamětí, Typy pamětí a struktura, Testovací vzorky pamětí a jejich diagnostická hodnota, Diagnostika vstupně-výstupních obvodů .- Diagnostika obvodů velké integrace, technologické aspekty, zdroje poruch, metody testování.- Zahořovací testy a testy životnosti.- Spolehlivost, Terminologie, Spolehlivostní modely objektů, Spolehlivost součástek, subsystémů, systémů, Určování spolehlivosti podle vnitřní struktury.- Principy automatických testerů, Testování spojových desek, Testovaní osazených modulů.- Automatizace generování testu, Minimalizace testu, Pseudotriviální testy, Zabezpečení proti poruchám.- Komprese diagnostických dat, Příznaková analýza .- Návrh pro snadnou diagnostiku, Vestavěné diagnostické prostředky.- Vestavěná podpora pro diagnostiku - Boundary Scan, Standard 1149.x, Možnosti a varianty testování s vestavěnou podporou pro diagnostiku.- SMT - technologie povrchové montáže, principy, specifika součástkových pouzder, typické technologie a zařízení.
Získané způsobilosti
Student získá přehledné znalosti o metodice testování elektronických obvodů. Je schopný vytvořit plán testů a zařadit jej do technologického procesu. Je způsobilý pracovat s testovacími zařízeními.
Literatura
Hlavička, Jan. Diagnostika a spolehlivost. Vyd. 2. Praha : Vydavatelství ČVUT, 1998. ISBN 8001018466.Hlavička J., Kottek E., Zelený J. Diagnostika elektronických číslicových obvodů. Praha : SNTL/ALFA, 1982. Musil, V., Vlček, K. Diagnostika elektronických obvodů. Brno : VUT, 1998. Novák O., Gramatová E., Ubar R., and al. Handbook of Testing Electronic System. Praha : CVUT, 2006. Drábek, V. Spolehlivost a diagnostika. Praha, 1986.
Požadavky
Způsob zakončení předmětu - zkouškaZpracování odborného textu na dané téma. Presentace textu pro zkušební komisi.
Garant
prof. Ing. Karel Vlček, CSc.