Předmět Spektroskopické metody studia pevných látek (D107004)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu D107004 - Spektroskopické metody studia pevných látek, Fakulta chemické technologie, Vysoká škola chemicko-technologická v Praze (VŠCHT).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Sylabus

Spektrum, účinný průřez, vlastnosti záření a částic. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, fotoefekt. Fyzika atomu, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar. Elektronové a atomové hladiny, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování.Transmisní elektronová mikroskopie, princip, typy kontrastů, příprava vzorků.Rastrovací elektronová mikroskopie, princip, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků.Rtg. mikroanalýza, princip, korekční metody. Rtg fluorescence, princip, korekční metody. Povrch - vznik, struktura a vlastnosti. XPS a UV XPS, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie.Augerova spektroskopie, princip, Augerova mikroskopie.SIMS pro pevnou fázi, rozptyl iontů, kinematický faktor, rozprašovací výtěžnost, SNMS.PIXE, RBS a další iontové spektroskopie, rozptyl nízkoenergetických iontů.Hrotové metody, principy. STM, AFM, SNOM.Difrakce fotonů, elektronů a neutronů. Strukturní faktor. LEED, EBSD, XRD, ND.Vakuum a vakuová zařízení. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF.

Literatura

Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852 Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2 Z: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0 Z: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8D: Vybrané publikace a webové odkazy

Garant

Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D.