Předmět Diagnostika a testování elektronických systémů (FEKT-BDTS)

Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu FEKT-BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, Vysoké učení technické v Brně (VUT).

Materiál	Typ	Datum	Počet stažení

Cíl

Seznámit studenty se základními pojmy technické diagnostiky, vysvětlit rozdíly mezi fyzikálními a funkčními přístupy diagnostiky, osvětlit problematiku zdrojů chyb, které mohou vznikat během měření a jak jim předcházet, seznámit se způsoby testování základních elektrotechnických bloků, seznámit s metodou vestavětného testování a rozhranním JTAG, seznámit s problematikou návrhu obvodů s ohledem na snadnou diagnostikovatelnost.

Osnova

Úvod do technické diagnostiky, základní terminologieTypy poruch elektronických součástek, integrovaných obvodůPostupy při diagnostice elt. zařízeníChyby měření a příčiny jejich vznikuPraktické příklady diagnostiky elektrotechnických obvodůZpětnovazební systémy (zdroje, zesilovače), stabilitaPraktické příklady diagnostiky zpětnovazebních obvodůDiagnostika a testování digitálních obvodů. Poruchy v logických obvodech. Diagnostika poruch v logických systémech, modelování poruch, testování logických obvodů, Booleovská diference, tvorba testů pro kombinační obvody.Vestavěné testovací systémy (BIST), boundary scan (JTAG)Diagnostika analogových signálůNávrh s ohledem na diagnostikovatelnost, testování embedded systémů - vývojové modely

Literatura

Loveday,G.C.: Electronic testing and fault diagnosis, Longman, 1995 (EN)Lenk,J.D.: McGraw-Hill electronic troubleshooting handbook, McGraw-Hill, 1995 (EN)Pain,R.: Practical electronic fault finding and troubleshooting, Newnes, 1995 (EN)Bushnell M.L., Agrawal V. D.: Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, Boston, 2000 (EN)Hurst L.S.: VLSI testing, The Institution of EE, London, 1998 (EN)Miczo A.: Digital Logic Testing and Simulation, Wiley-Interscience, Hoboken,N.J., 2003 (EN)Mourad S.: Principles of Testing Electronic Systems, John Wiley & Sons Inc., New York, 2000 (EN)Segura J., Hawkins Ch.F.: CMOS Electronics How It Works, How It Fails, IEEE Inc., 2004 (EN)Burns M., Roberts G.W.: An Introduction to Mixed-Signal IC test and Measurement, Oxford University Press, 2001 (EN)Kuo J.B., Lou J.: Low-Voltage CMOS VLSI Circuits, John Wiley & Sons, 1999 (EN)Uyemura J.P.: Introduction to VLSI Circuits and Systems, John Wiley & Sons, 2002 (EN)Kwok K.N.: Complete Guide To Semiconductor Devices, Mc Graw-Hill Inc., 1995 (EN)MUSIL, V.,RECMAN, M., PROKOP, R. Diagnostika a testování elektronických systémů_S. ISBN MEL105. (skripta) (CS)MUSIL, V., RECMAN, M., PROKOP, R. Diagnostika a testování elektronickýých systémů_P. ISBN MEL107. (skripta) (CS)MUSIL, V., RECMAN, M., PROKOP, R. Diagnostika a testování elektronických systémů_L. ISBN MEL106. (skripta) (CS)

Požadavky

Jsou požadovány znalosti na úrovni středoškolského studia.

Garant

Ing. Michal Pavlík, Ph.D.

Vyučující

Ing. Michal Pavlík, Ph.D.