Předmět Smart and Semiconductor Sensors (FEKT-NIPS)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu FEKT-NIPS - Smart and Semiconductor Sensors, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, Vysoké učení technické v Brně (VUT).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Cíl
Cílem předmětu je seznámit studenty a prohloubit jejich znalosti v oblasti snímačů, konkrétně polovodičových a inteligentních senzorů, jejich použitím v reálných aplikacích, například v měření, navigaci, robotice, atp. Cílem je vytvořit studentům přehled a představu o používaných fyzikálních jevech, měřicích metodách a koncepcích MEMS (mikro-elektro-mechanických) snímačů.
Osnova
Definice pojmů, charakteristika snímačů. Základní technologické postupy při výrobě snímačů, objemové a povrchové mikroobrábění Základní fyzikální jevy využívané u mikroelektronických polovodičových snímačů Snímače mechanických veličin Snímače mechanických veličin Snímače magnetických veličin Snímače radiačních veličin Snímače radiačních veličin Snímače tepelných veličin Snímače chemických veličinBiosenzoryKoncepce inteligentních snímačů - čidlo, zpracování signálu, autodiagnostika, autokalibrace, komunikační standardyPříklady typických aplikací ve vybraných systémechBiosnímače Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, elektronické zpracování signálu, komunikační rozhraní, diagnostika, automatická kalibrace Příklady typických aplikací ve vybraných systémech.
Literatura
Gad-El-Hak, M.: The MEMS Handbook. CRC, New York, 2002 (EN)SZE, S.M.: Semiconductor Sensors. John Wiley & Sons, New York, 1994 (EN)Frank, R.: Understanding Smart Sensors. Artech House, Norwood, 2000 (EN)Kovacs, T.A.: Micromachined Transducers Sourcebook. McGraw-Hill, New York, 1998 (EN)
Požadavky
Student, který si zapíše předmět, by měl být schopen vysvětlit základy fyziky polovodičů, vyjmenovat a popsat základní principy snímačů fyzikálních veličin, umět analyzovat a identifikovat elektronické obvody používané v senzorice a měřicí technice, aplikovat základní metody měření elektrických veličin (napětí, proud, odpor, kapacita, indukčnost) a být schopen samostatně sestavit měřicí pracoviště s přístroji: osciloskop, funkční generátor, měřicí karta pro sběr analogového a digitálního signálu a dokázat naprogramovat základní aplikaci pomocí nástrojů virtuální instrumentace (LabVIEW) se zpracováním signálů a dat.
Garant
doc. Ing. Petr Beneš, Ph.D.
Vyučující
doc. Ing. Petr Beneš, Ph.D.