Předmět Mikroskopie a analýza pomocí nabitých částic (FSI-9ANC)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu FSI-9ANC - Mikroskopie a analýza pomocí nabitých částic, Fakulta strojního inženýrství, Vysoké učení technické v Brně (VUT).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Cíl
Znalost teoretických základů částicové optiky a přístrojové problematiky elektronové mikroskopie (zobrazení, analýza vzorků) a technologických aplikací svazků nabitých částic.
Osnova
Není specifikováno.
Literatura
Eckertová, L. a Frank, L., ed., Metody analýzy povrchů. Elektronová mikroskopie a difrakce. Praha: Academia 1996B. Lencová: Částicová optika, poznámky k přednášce. ÚPT AV ČR, 2000B. Lencová_: Electron sources and beam formation for X-ray microanalysis. ČVUT Praha 2000Frank, L. a Král, J., ed.: Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia 2002.P. W. Hawkes and E. Kasper, Principles of Electron Optics, Vol. I a II. London: Academic Press 1989 a 1996.S. Humphries, Jr: Charged Particle Beams. New York: J. Wiley, 1990.
Požadavky
Znalosti matematiky, světelné optiky, teorie elektromagnetického pole a Fourierovských metod na úrovni absolventa odborné fyziky nebo fyzikálního inženýrství.
Garant
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc.
Vyučující
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc.