Předmět Mikroskopie a spektroskopie (FSI-TMK)
Na serveru studentino.cz naleznete nejrůznější studijní materiály: zápisky z přednášek nebo cvičení, vzorové testy, seminární práce, domácí úkoly a další z předmětu FSI-TMK - Mikroskopie a spektroskopie, Fakulta strojního inženýrství, Vysoké učení technické v Brně (VUT).
Top 10 materiálů tohoto předmětu
Materiály tohoto předmětu
| Materiál | Typ | Datum | Počet stažení |
|---|
Další informace
Cíl
Cílem předmětu je seznámit studenty se základními principy a technikami světelné mikroskopie a spektroskopie a částicové spektroskopie a umožnit jim praktické seznámení s příslušnými přístroji.
Osnova
Není specifikováno.
Literatura
D. B. Murphy: Fundamentals of light microscopy and electronic imaging. Wiley-Liss, Hoboken 2001.http://micro.magnet.fsu.edu/primerA. R. Hibbs: Confocal Microscopy for Biologists. Springer, 2004.H. Kuzmany: Solid-state spectroscopy. Springer, 2009. (EN) H. Friedrich: Scattering Theory. Springer, Heidelberg, New York, Dordrecht, London 2013. (EN)J. Čechal: Analýza povrchu a tenkých vrstev využitím fotoelektronové spektroskopie. Dizertační práce, VUT v Brně, 2006. (CS)R. G. Wilson, F. A. Stevie, AND C. W. Magee: Secondary Ion Mass Spectrometry – a practical handbook for depth profiling and bulk analysis. John Wiley, 1989. (EN)R. Chmelík: Materiály do praktika předmětu Mikroskopie a spektroskopie. Elektronický studijní text, Brno, 2014. (CS)M. CH. Barschick, D. C. Duckworth, D. H. Smith: Inorganic mass spectrometry - fundamentals and applications. Marcel Dekker, NY, 2000. (EN)A. Beninghoven: Secondary ion mass spectrometry - basics concepts, instrumental aspects, applications and trends. John Wiley, NY, volume 86, 1987. (EN)D. Briggs, M. P. Seah (Eds.): Practical Surface Analysis, vol. 1: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, sec. ed., John Wiley, Chichester, UK, 1993. (EN)D. Briggs, J. Grant (eds.): Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, IM Publications and Surface Spectra Ltd., Trowbridge 2003. (EN)E. Keprt: Teorie optických přístrojů 2, Teorie a konstrukce mikroskopu, SPN, Praha 1966. (CS)Internetové zdroje: http://micro.magnet.fsu.edu/primer http://microscopyu.com (EN)
Požadavky
Základní kurz fyziky, kvantová fyzika, fyzika pevných látek, povrchy a tenké vrstvy, geometrická a vlnová optika.
Garant
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D.
Vyučující
Ing. Martin Antoš, Ph.D.Ing. Petr Bábor, Ph.D.Ing. Jana ČollákováIng. Zbyněk Dostálprof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D.doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.