Jak Začít?

Máš v počítači zápisky z přednášek
nebo jiné materiály ze školy?

Nahraj je na studentino.cz a získej
4 Kč za každý materiál
a 50 Kč za registraci!




Měření na optoelektrických prvcích

DOC
Stáhnout kompletní materiál zdarma (1.82 MB)

Níže je uveden pouze náhled materiálu. Kliknutím na tlačítko 'Stáhnout soubor' stáhnete kompletní formátovaný materiál ve formátu DOC.

Fotoodpor

U této součástky jsme měli změřit VACH pro dvě osvětlení a závislost odporu na osvětlení. Zároveň jsme měli ověřit teoretické předpoklady. Při měření závislosti odporu na osvětlení je odpor pro malé osvětlení velký a se vzrůstajícím osvětlením klesá. VACH pro různá osvětlení vypadají tak, že se vzrůstajícím napětí roste i proud. Dále jsme zjistili, že více osvětleným fotoodporem procházel při stejném napětí větší proud => menší odpor a tím jsme si také ověřili závislost R na E(E↑ R↓). Zjistili jsme, že naše výsledky souhlasí s teoretickými. Nepřesnosti v měření jsou můžou být způsobeny špatným kontaktem vodičů s fotoodporem. Jinak nepřesnosti mohou být způsobeny nepřesným nastavením a odečtením hodnot a při měření závislosti R na E byly chyby způsobeny luxmetrem, protože se lišily údaje při stejném osvětlení před a po přepnutí rozsahu.

Fotodioda

Při měření fotodiody jsme po připojení na záporné napětí jsme naměřili určitý proud, který se zvyšoval se stoupajícím osvětlením. To má za následek vzdálení voltampérových charakteristik ve třetí kvadrantu. Tato vzdálenost je přímo úměrná osvětlení, tzn. Čím větší bylo osvětlení, tím více byly vzdálené. Se zvyšováním napětí v obvodu se proud na diodě postupně zvyšoval. Tímto nárůstem zároveň měnil i svou vlastní polaritu ze záporné na kladnou. V našem případě se tak stalo při napětí okolo 230mV (resp. 265mV). Tato hodnota platí přibližně pro obě hodnoty osvětlení. Při napětí vyšším než 230mV (resp. 265mV) naměříme pouze kladný proud a na voltampérové charakteristice se dostaneme do 1.kvadrantu. Nepřesnosti měření mohly být způsobeny nepřesným nastavením vstupního napětí a odečítáním hodnot z měřících přístrojů.

Témata, do kterých materiál patří